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光子多普勒測速儀的選型要掌握以下內容
光子多(duo)普(pu)勒測(ce)(ce)(ce)(ce)速(su)(su)儀(yi)是基于多(duo)普(pu)勒效應原理設(she)計的(de)(de)(de)一種測(ce)(ce)(ce)(ce)速(su)(su)裝置(zhi)。它利(li)用(yong)激(ji)光器(qi)發射出的(de)(de)(de)高頻(pin)(pin)光束(shu)(shu)，通過(guo)(guo)與移動目(mu)標表面反(fan)射后的(de)(de)(de)光束(shu)(shu)進行干(gan)涉，測(ce)(ce)(ce)(ce)量出目(mu)標的(de)(de)(de)運動速(su)(su)度。根據多(duo)普(pu)勒效應，當(dang)(dang)物(wu)體靠近(jin)光源時，反(fan)射回來的(de)(de)(de)光的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)比入射光的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)高；而(er)當(dang)(dang)物(wu)體遠離(li)光源時，反(fan)射回來的(de)(de)(de)光的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)比入射光的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)低。通過(guo)(guo)測(ce)(ce)(ce)(ce)量頻(pin)(pin)率(lv)的(de)(de)(de)變化，我們可以(yi)得到(dao)物(wu)體的(de)(de)(de)速(su)(su)度。光子多(duo)普(pu)勒測(ce)(ce)(ce)(ce)速(su)(su)儀(yi)具有非常高的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量精(jing)度，可以(yi)準(zhun)確地(di)測(ce)(ce)(ce)(ce)量物(wu)體的(de)(de)(de)速(su)(su)度，尤其適用(yong)于高速(su)(su)和微(wei)小尺寸的(de)(de)(de)目(mu)標。無需直接接觸被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)體，只需要通過(guo)(guo)激(ji)光束(shu)(shu)進行遠距(ju)離(li)測(ce)(ce)(ce)(ce)量，不會對被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)...
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簡單介紹彩色紋影儀的應用與魅力
在(zai)現代科(ke)技的(de)(de)(de)推動下(xia)，各(ge)種(zhong)先(xian)進(jin)的(de)(de)(de)設備(bei)(bei)和工(gong)具不斷涌現，為(wei)我(wo)們帶(dai)來了更多(duo)便利(li)和創新。其(qi)中，彩色(se)紋(wen)影(ying)儀作為(wei)一種(zhong)精密(mi)測量設備(bei)(bei)，在(zai)許多(duo)領(ling)域(yu)中展示(shi)出其(qi)的(de)(de)(de)應用價值。本文將介(jie)紹(shao)彩色(se)紋(wen)影(ying)儀的(de)(de)(de)定義、原理、特點以(yi)及其(qi)在(zai)科(ke)學研究、藝術設計(ji)和工(gong)業(ye)制造等方面(mian)所帶(dai)來的(de)(de)(de)益處(chu)。彩色(se)紋(wen)影(ying)儀是一種(zhong)高精度光(guang)(guang)學測量設備(bei)(bei)，能(neng)夠實時捕捉(zhuo)并記錄物體表面(mian)微(wei)小變形產生的(de)(de)(de)干涉圖(tu)案。該設備(bei)(bei)利(li)用光(guang)(guang)源對物體進(jin)行照射(she)(she)，并通過(guo)接收反射(she)(she)或透射(she)(she)回來的(de)(de)(de)光(guang)(guang)線(xian)來生成干涉圖(tu)案。通過(guo)對這些干涉圖(tu)案進(jin)行處(chu)理和分析，可以(yi)獲取物體表面(mian)形貌(mao)和變形信(xin)息。與傳統(tong)測量...
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紋影儀的用途有哪些？
流場(chang)密度的(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)與(yu)(yu)介質(zhi)折(zhe)射(she)率有線性關系(xi)，密度的(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)直接反映為折(zhe)射(she)率變(bian)化(hua)(hua)。折(zhe)射(she)率的(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)將引(yin)起(qi)光(guang)線的(de)(de)偏折(zhe)，從而引(yin)起(qi)像面(mian)照度的(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)，形成不規則的(de)(de)明暗(an)條紋(wen)。利用這一原理進行折(zhe)射(she)率變(bian)化(hua)(hua)的(de)(de)測試即為紋(wen)影技術，該(gai)技術可用于觀察氣體介質(zhi)、液體及透(tou)明固體材料(liao)中(zhong)由于火花放(fang)電、爆炸、流動、受力所引(yin)起(qi)的(de)(de)物理運動過(guo)程。紋(wen)影儀(光(guang)學流場(chang)顯(xian)示(shi)儀)是采用紋(wen)影方法顯(xian)示(shi)透(tou)明介質(zhi)密度和溫(wen)度分布在介質(zhi)中(zhong)折(zhe)射(she)率變(bian)化(hua)(hua)的(de)(de)通(tong)用光(guang)學流場(chang)顯(xian)示(shi)儀器，為研究分層(ceng)流、多(duo)項流、超聲速流、傳熱與(yu)(yu)傳質(zhi)，自(zi)然與(yu)(yu)強迫的(de)(de)燃燒、火焰、爆炸，等離(li)子體、...
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反射式光彈儀的兩種形式介紹
常用(yong)的(de)(de)反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)儀(yi)(yi)有兩種(zhong)形式：一種(zhong)的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)元件作V形布(bu)置(zhi)，稱為”字形反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)性(xing)(xing)儀(yi)(yi)；另一種(zhong)則作T形布(bu)置(zhi)，稱為直角式反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)性(xing)(xing)儀(yi)(yi)。兩種(zhong)反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)性(xing)(xing)儀(yi)(yi)的(de)(de)特點都是光(guang)(guang)(guang)線(xian)兩次(ci)通過光(guang)(guang)(guang)敏薄層。這樣，用(yong)反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)性(xing)(xing)儀(yi)(yi)觀(guan)察到的(de)(de)等(deng)色線(xian)相當于材料的(de)(de)敏感度提(ti)高了(le)一倍(bei)。目前生產的(de)(de)反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)儀(yi)(yi)都向(xiang)小型、輕型和(he)自(zi)動化(hua)方向(xiang)發(fa)展。有的(de)(de)反(fan)(fan)射(she)式光(guang)(guang)(guang)彈(dan)儀(yi)(yi)已發(fa)展成(cheng)有多種(zhong)專(zhuan)用(yong)附(fu)件，如用(yong)于動態應力分析(xi)的(de)(de)頻閃燈、電影攝影機及光(guang)(guang)(guang)敏檢測和(he)記(ji)錄設備；用(yong)于精密的(de)(de)逐點測量(liang)的(de)(de)各(ge)種(zhong)補償(chang)器；用(yong)于斜射(she)的(de)(de)各(ge)種(zhong)裝置(zhi)等(deng)。數碼(ma)光(guang)(guang)(guang)彈(dan)儀(yi)(yi)采用(yong)光(guang)(guang)(guang)學(xue)(xue)靈敏性(xing)(xing)材料...
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數碼光彈儀解讀物體表面的微小振動
數(shu)碼(ma)光彈(dan)(dan)儀(yi)是(shi)一種先(xian)進(jin)的(de)光學(xue)測(ce)量設備，通過利用激光束對(dui)物(wu)(wu)體表面(mian)進(jin)行掃描和(he)(he)監測(ce)，可以精確地測(ce)量物(wu)(wu)體在(zai)微(wei)觀尺度下(xia)的(de)振動和(he)(he)變形(xing)情況(kuang)。本(ben)文將(jiang)介(jie)紹數(shu)碼(ma)光彈(dan)(dan)儀(yi)的(de)原理(li)、工作方式以及(ji)其在(zai)多個(ge)領域中的(de)應用。一、數(shu)碼(ma)光彈(dan)(dan)儀(yi)基于三(san)角測(ce)量原理(li)，使(shi)用激光束照射到(dao)物(wu)(wu)體表面(mian)，并通過相(xiang)機(ji)記錄激光點在(zai)圖像上(shang)的(de)位(wei)置(zhi)(zhi)。根據這些位(wei)置(zhi)(zhi)信息以及(ji)已知參數(shu)，可以計算出物(wu)(wu)體表面(mian)上(shang)各點的(de)位(wei)移(yi)和(he)(he)變形(xing)情況(kuang)。這種技(ji)術主要依賴于激光線性衍射效應和(he)(he)相(xiang)機(ji)成像處理(li)。二、工作方式：標定：為了(le)獲得準(zhun)確的(de)測(ce)量結果，首先(xian)需要對(dui)數(shu)碼(ma)光彈(dan)(dan)儀(yi)進(jin)行標定。通過...
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光纖探針爆速測量儀—超越傳統，實現高效測量
在(zai)當今科技(ji)(ji)快速發展的(de)(de)(de)時(shi)(shi)代，精準、高(gao)效的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)設備(bei)對(dui)于(yu)各(ge)行(xing)各(ge)業都(dou)起(qi)著(zhu)至關重要的(de)(de)(de)作用(yong)。其中一款備(bei)受矚目(mu)的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)器是光(guang)(guang)纖探針爆速測(ce)量(liang)儀(yi)(yi)。本文將(jiang)介紹這種先進(jin)設備(bei)的(de)(de)(de)原理、功(gong)能和應用(yong)領域(yu)。光(guang)(guang)纖探針爆速測(ce)量(liang)儀(yi)(yi)利用(yong)了最新(xin)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)學(xue)和計(ji)算機技(ji)(ji)術來進(jin)行(xing)快速而準確的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)。其主(zhu)要由(you)兩部(bu)分(fen)組(zu)成：可(ke)移動式探頭(tou)和數(shu)據(ju)(ju)采(cai)集系統(tong)。可(ke)移動式探頭(tou)包(bao)含一個微型(xing)鏡頭(tou)和一個靈(ling)敏度高(gao)的(de)(de)(de)光(guang)(guang)電傳感(gan)器，通過使用(yong)光(guang)(guang)纖將(jiang)信號(hao)傳輸到(dao)數(shu)據(ju)(ju)采(cai)集系統(tong)中進(jin)行(xing)處理。該裝置具有(you)多(duo)項出(chu)色功(gong)能。首先，它(ta)能夠(gou)實時(shi)(shi)監測(ce)非(fei)常(chang)小(xiao)尺寸(cun)或曲面形(xing)狀物體上特(te)定區域(yu)內(nei)涌入或噴...
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走進光學干涉儀：探索精密測量的奇妙世界
1.光(guang)(guang)(guang)學干涉儀(yi)是什么(me)？光(guang)(guang)(guang)學干涉儀(yi)是利(li)用光(guang)(guang)(guang)束之間的(de)(de)相(xiang)互干涉現象進(jin)行測量和分析的(de)(de)裝置。它基(ji)于波動性(xing)理論，通過(guo)將(jiang)兩個或多個光(guang)(guang)(guang)路上反射(she)或傳播(bo)過(guo)程中(zhong)(zhong)(zhong)產生的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)束疊加在一起，并根據相(xiang)位差來(lai)獲得被測物體表面形貌(mao)、薄(bo)膜(mo)厚度(du)、折射(she)率(lv)等信息。2.工作原(yuan)理與(yu)分類(lei)常(chang)見的(de)(de)幾種典(dian)型光(guang)(guang)(guang)學干涉儀(yi)包括馬赫-曾德爾（Michelson）、白居易（Fizeau）、擴展大比例（ESPI）以及激光(guang)(guang)(guang)自(zi)由空間雨(yu)滴(di)法等。其中(zhong)(zhong)(zhong)，馬赫-曾德爾干涉儀(yi)是最常(chang)見和基(ji)礎的(de)(de)類(lei)型，利(li)用分束器將(jiang)光(guang)(guang)(guang)源分成兩個相(xiang)干光(guang)(guang)(guang)路，在反射(she)或傳播(bo)過(guo)程中(zhong)(zhong)(zhong)與(yu)被測物...
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一起來了解光學干涉儀的原理
光(guang)(guang)(guang)學(xue)干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)儀是一種(zhong)利用光(guang)(guang)(guang)的(de)干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)現象來測量(liang)(liang)長(chang)度(du)、厚(hou)度(du)、折(zhe)射(she)率等物理(li)量(liang)(liang)的(de)儀器(qi)，測量(liang)(liang)原理(li)是利用光(guang)(guang)(guang)的(de)波動性和(he)干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)現象，通(tong)過(guo)測量(liang)(liang)光(guang)(guang)(guang)程(cheng)(cheng)差(cha)(cha)的(de)變化來測量(liang)(liang)物體(ti)的(de)形(xing)(xing)狀和(he)表(biao)面(mian)特征(zheng)(zheng)。光(guang)(guang)(guang)程(cheng)(cheng)差(cha)(cha)是指(zhi)兩(liang)(liang)束光(guang)(guang)(guang)在傳(chuan)播過(guo)程(cheng)(cheng)中所經過(guo)的(de)光(guang)(guang)(guang)程(cheng)(cheng)差(cha)(cha)異(yi)，它是由物體(ti)表(biao)面(mian)形(xing)(xing)狀和(he)折(zhe)射(she)率的(de)變化所引起的(de)。當兩(liang)(liang)束光(guang)(guang)(guang)相遇時，它們會產生干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)現象，干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)圖樣(yang)的(de)形(xing)(xing)狀和(he)大小與光(guang)(guang)(guang)程(cheng)(cheng)差(cha)(cha)有關，通(tong)過(guo)測量(liang)(liang)干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)圖樣(yang)的(de)變化，可(ke)以得(de)到物體(ti)表(biao)面(mian)的(de)形(xing)(xing)狀和(he)特征(zheng)(zheng)。光(guang)(guang)(guang)學(xue)干(gan)(gan)(gan)涉(she)(she)(she)(she)儀的(de)基本組成部分(fen)(fen)包(bao)括光(guang)(guang)(guang)源、分(fen)(fen)束器(qi)、反射(she)鏡、光(guang)(guang)(guang)程(cheng)(cheng)差(cha)(cha)調節器(qi)和(he)檢測器(qi)。在工(gong)作時，光(guang)(guang)(guang)源發出的(de)光(guang)(guang)(guang)線(xian)經過(guo)分(fen)(fen)束器(qi)分(fen)(fen)成兩(liang)(liang)...
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彈簧探針爆速測量儀：快速高效的表面檢測利器
隨著制造業的(de)(de)不斷發(fa)展和進(jin)步(bu)，表面檢測(ce)(ce)(ce)技(ji)術也(ye)在(zai)不斷地提高和創新。其中一(yi)種(zhong)(zhong)被(bei)廣泛使(shi)用(yong)的(de)(de)技(ji)術就是彈簧(huang)探(tan)針(zhen)(zhen)爆(bao)速(su)(su)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀。該(gai)設(she)備具(ju)有快速(su)(su)、高效、準確等多種(zhong)(zhong)優點，成(cheng)為(wei)現代制造業中不可缺(que)的(de)(de)工具(ju)。彈簧(huang)探(tan)針(zhen)(zhen)爆(bao)速(su)(su)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀是一(yi)種(zhong)(zhong)利用(yong)機械原(yuan)理進(jin)行表面檢測(ce)(ce)(ce)的(de)(de)設(she)備。其結構由一(yi)個彈簧(huang)探(tan)頭和一(yi)個顯示屏組成(cheng)。在(zai)使(shi)用(yong)過程(cheng)中，將彈簧(huang)探(tan)頭壓在(zai)被(bei)測(ce)(ce)(ce)物體(ti)(ti)的(de)(de)表面上，然后(hou)松開彈簧(huang)探(tan)頭，此(ci)時彈簧(huang)會突然彈起，從而產(chan)生一(yi)個沖擊(ji)波(bo)。該(gai)沖擊(ji)波(bo)通過傳感(gan)器轉(zhuan)換成(cheng)電信(xin)號并經(jing)過處(chu)理后(hou)顯示在(zai)屏幕上，由此(ci)得出被(bei)測(ce)(ce)(ce)物體(ti)(ti)表面的(de)(de)相(xiang)關參數。彈簧(huang)探(tan)針(zhen)(zhen)爆(bao)速(su)(su)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)...
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數字粒子圖像測速儀——精確測量流體運動的利器
數(shu)字(zi)粒(li)子(zi)圖像(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)速儀（DigitalParticleImageVelocimetry，DPIV）是一種現代(dai)化的(de)(de)流(liu)(liu)場(chang)測(ce)(ce)(ce)量技術(shu)，它可以準確地(di)測(ce)(ce)(ce)量高(gao)(gao)速流(liu)(liu)體(ti)(ti)在空間(jian)(jian)和時間(jian)(jian)上的(de)(de)速度(du)(du)變化。它使用(yong)激光束對流(liu)(liu)體(ti)(ti)中(zhong)的(de)(de)微小顆(ke)粒(li)進(jin)行照射，并通(tong)過高(gao)(gao)速攝像(xiang)(xiang)機記錄其軌跡，以提(ti)取流(liu)(liu)場(chang)信息。數(shu)字(zi)粒(li)子(zi)圖像(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)速儀的(de)(de)基本原理是通(tong)過兩張連續拍攝的(de)(de)圖像(xiang)(xiang)來比較流(liu)(liu)體(ti)(ti)中(zhong)小顆(ke)粒(li)的(de)(de)位(wei)置(zhi)變化，從而計(ji)算出液體(ti)(ti)或氣體(ti)(ti)在兩個時間(jian)(jian)點(dian)之間(jian)(jian)的(de)(de)平均速度(du)(du)。為(wei)了達到更高(gao)(gao)的(de)(de)精度(du)(du)和分(fen)辨率，數(shu)字(zi)粒(li)子(zi)圖像(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)速儀通(tong)常要(yao)求小顆(ke)粒(li)直(zhi)徑在數(shu)十微米(mi)以下，并且需要(yao)使用(yong)高(gao)(gao)...
